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        产品详情
        • 产品名称: (Li1.5Al0.5Ge1.5P3O12)导电陶瓷粉末
        • 产品提示: 图片及数据仅供参考,具体请致电销售热线
        • 产品型号:
        • 浏览次数: 495

         

        • 颗粒度:D50:3-4um, D50:500nm
        • X射线粉末衍射(XRD)测试源为Cu Kα,λ=0.15406 nm,工作电压40 kV,工作电流20 mA,扫描速度0.02 °/s,扫描范围为10-80 °。

        • 扫描电镜(SEM)测试加速电压为15 kV,放大倍数20000倍。

        • 粒度分析为湿法测量,粒度测定范围:0.6-6000 nm。

        • 交流阻抗测试频率为0.1-1 MHz,变温测试温度范围为-20-150 ℃。

         

        X射线衍射物相分析

        扫描电镜测试分析

        粒度分析

        交流阻抗分析

        温度关系曲线

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