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        • 产品名称: 简便型原位元素分析X射线荧光光谱仪(XRF)-EQ-XRFIV-LD
        • 产品提示: 图片及数据仅供参考,具体请致电销售热线
        • 产品型号: EQ-XRFIV-LD

        下载附件:

            EQ-XRFIV-LD是一款方便简洁型的X射线荧光光谱仪,与电脑及分析软件配套使用可以对样品元素进行原位分析。它可以快速简单的对样品成分进行分析(Ne到Pu)。该装置具有高的灵敏度,可以在极低浓度下(ppm级)测量出样品中所含的各元素。设备中的光谱分析软件提供了强大的数据库,可对各种复杂未知的样品进行实时分析。

         

        技术参数

        特征

        • XRF光谱仪由三部分组成:迷你X射线源、SDD探测器以及带分析软件的电脑控制系统
        • 仪器各部件极易组装来进行原位XRF分析,测试时可手动扫描也可以进行自动扫描,仪器可在空气中使用,对于气敏性样品仪器也可集成到手套箱中进行使用。
        • 您可以自行选配,也可以由我们技术部帮您定制XRF系统
        •   
        X射线源
        • 输入电源:12V DC(包含一交流适配器)、最大功率:4W
        • 银靶X射线管(可选金靶)
        • 电压:10-50KV可调
        • 电流:5-200μA可调
        • 光斑大小:1mm和2mm(包含准直仪)
        • 可替换的滤波器使得仪器适用于各类元素分析的需要(轻型、中型、重型)
        • 过滤器:Al、Cu、Mo、Ag、W
        • 窗口材料:Be
        • USB控制X射线的电压和电流从而保证分析的最优化
        探测器
        • 输入电压:5V DC(包含一AC适配器)、标配功率:2.5W
        • SDD(硅漂移探测器):高能量分辨率(125eV)用于元素检测(从Ne到Pu)
        • 探测器尺寸:25mm2的大面积探测器用于高计数率的测试,可测试500μm厚的试样
        • 窗口材料:12.5μm厚Be
        • 包含热电冷却器(珀尔帖效应)以及温度监控系统
        • 探测器以及前置放大器由数字脉冲处理器进行驱动控制(0.2μs~100μs)
        • 计数率:最大2000000cps
        • 峰值地面比:20000:1
        • 探测器可通过USB接口连接到电脑上进行控制和数据采集
        软件控制
        • 笔记本电脑中包含有预先装好的X射线源控制软件、探测器控制软件以及光谱分析软件用于仪器各部分的控制和数据分析
        • 强大的XRF控制系统以及光谱分析软件可以进行测量的定制和优化,特别适用于研究复杂样品和未知样品
        • 光谱分析软件可用于样品的定性和定量分析
            ͦ 样品一般为块体或薄膜
            ͦ 可对空气中的衰减和吸收进行完整的校正
            ͦ 可对55种元素进行实时分析
            ͦ 可选择自动模式进行连续或重复性的分析

        DIY 系统(可选)

        • 左图为一自制系统
        • 此系统中不包含辐射屏蔽系统,您可以DIY或者由本公司帮您设计/制作辐射屏蔽系统
        • 为了减少X射线管外的辐射,使其到达一安全水平(低于25µSv / h),客户可以使用1mm的Pb屏蔽罩或者采用6mm的Fe屏蔽罩
        • 仪器内部也可采用3mm的Al内衬来吸收从屏蔽罩上产生的XRF
        • 光谱仪也可集成在一XY两维移动平台上从而实现光谱仪的自动扫描模式(请点击下图查看详细信息)

        净重

        • 5.0 kg

        质量认证

        • CE认证
        • 如您需要可提供NRTL认证

        质保期

        • 一年保质期,终生维护

        操作视频

        • 操作视频即将上线

        应用注意事项

        • 用户操作之前必须进行辐射安全培训,充分理解辐射防护措施,详细阅读使用说明书
        • 注意X射线束!不要将X射线束指向包括您自己在内的任何人!