• 产品名称: 手持式四探针电阻率测试仪-M-3
  • 产品编号: M-3
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  • 产品型号:

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    M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

 

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技术参数

产品特征

  • 测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成
  • 手持式设计,带完善厚度、形状修正功能,测试精准
  • 宽量程:超宽五个档位,相当于中档台式机的量程
  • 操作简便、性能稳定:轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换,LED数字表头显示
  • 多款探头可选,适用于各种不同材料的导电性能测试

工作电源

 

  • 208-240V,50/60Hz
  • 电池供电:DC3.7V

探头

  • 根据不同材料特性需要,探头可有多款选配

     碳化钨探针探头(固体材料):测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料(详见图1)

     球形或平头镀金铜合金探针探头(薄膜):可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层(详见图2)

  • 探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差(详见图3)
 
图1 图2  图3

选配

 

 可选配快速恒压四探针测试台,对测试压力进行调节保证恒压测试,提高测试的精确度

 

测量范围、分辨率

  • 电阻:0.010~50.00kΩ 分辨率:0.001~10 Ω
  • 电阻率:0.010~20.00kΩ-cm 分辨率:0.001~10 Ω-cm
  • 方块电阻:0.050~100.00kΩ/m2  分辨率0.001~10Ω/m2

基本误差

 ±1%FSB±2LSB

外形尺寸

 210mm L × 100mm W × 36mm H

净重

 0.3kg

质保期

 一年保质期,终生维护

 

 

 

 

1

 

 

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