• 产品名称: 硅材料综合测试仪--JX2008
  • 产品编号: JX2008
  • 产品提示: 图片及数据仅供参考,具体请致电销售热线
  • 产品型号:

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          JX2008电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。

 

1.具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。 

2.电阻率分档直观,P/N报警门限分设。 

3.预设样片厚度,自动修正,直读电阻率 

4.P/N分选精度超强

5.交流电AC220V供电

6.主机尺寸:155×120×50mm

6.电阻率:0.001-100欧姆厘米

7.P/N型号:0.005欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米

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